彼得·B·赫希的个人简介
彼得·B·赫希爵士FRS（英语：SirPeter Bernhard Hirsch，1925年1月16日－），英国材料科学家，对电子显微镜的发展作出了根本性贡献。
基本介绍
彼得·B·赫希爵士Sir Peter B. Hirsch
出生1925年1月16日柏林
母校剑桥大学知名于透射电子显微镜物理学
奖项富兰克林奖章(1970)沃尔夫物理学奖(1983/4)
俄罗斯科学院罗蒙诺索夫金质奖章(2005)
科学生涯研究领域材料科学机构牛津大学彼得·B·赫希爵士FRS（英语：SirPeter Bernhard Hirsch，1925年1月16日－），英国材料科学家，对电子显微镜的发展作出了根本性贡献。
生平
爵士毕业于Sloane School以及剑桥大学圣凯瑟琳学院。1946年他加入卡文迪许实验室的晶体部门。后来，他对于煤炭结构的分析做出了重要贡献。
在1950年代他创新地将透射电子显微镜(TEM)应用于金属，发展了详细的扫描技术理论。在1965年他和Archibald Howie, M.J. Whelan, Pashley and Nicholson,发表了晶体电子显微的文章。
后来赫希在牛津大学人任讲席教授，1992年退休。他创建了牛津大学的材料科学系。
因为他促进电子显微镜的发展，以研究晶体物质的结构，赫希1983年获沃尔夫物理学奖。1963年当选皇家学会院士，1975年封为骑士。赫希也是牛津大学圣艾德蒙学堂成员之一。
相关术语
透射电子显微镜透射电子显微镜（英语：Transmission electron microscope，缩写：TEM、CTEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦后在成像器件（如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件）上显示出来。
由于电子的德布罗意波长非常短，透射电子显微镜的分辨率比光学显微镜高的很多，可以达到0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍。因此，使用透射电子显微镜可以用于观察样品的精细结构，甚至可以用于观察仅仅一列原子的结构，比光学显微镜所能够观察到的最小的结构小数万倍。TEM在中和物理学和生物学相关的许多科学领域都是重要的分析方法，如癌症研究、病毒学、材料科学、以及纳米技术、半导体研究等等。
在放大倍数较低的时候，TEM成像的对比度主要是由于材料不同的厚度和成分造成对电子的吸收不同而造成的。而当放大率倍数较高的时候，复杂的波动作用会造成成像的亮度的不同，因此需要专业知识来对所得到的像进行分析。通过使用TEM不同的模式，可以通过物质的化学特性、晶体方向、电子结构、样品造成的电子相移以及通常的对电子吸收对样品成像。
第一台TEM由马克斯·克诺尔和恩斯特·鲁斯卡在1931年研制，这个研究组于1933年研制了第一台分辨率超过可见光的TEM，而第一台商用TEM于1939年研制成功。
电子显微镜电子显微镜（英语：electron microscope，简称电镜或电显）是使用电子来展示物件的内部或表面的显微镜。
高速的电子的波长比可见光的波长短（波粒二象性），而显微镜的分辨率受其使用的波长的限制，因此电子显微镜的分辨率（约0.2纳米）远高于光学显微镜的分辨率（约200纳米）。
